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產(chǎn)品概述：
TIME1130數(shù)字超聲波探傷儀匯集時代公司26年超聲儀器設計、制造經(jīng)驗而研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，能夠快速、無損傷、精確地進行工件內(nèi)部多種缺陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測、定位及對缺陷的定量和定性，廣泛應用于電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結(jié)構(gòu)、軍工 、航空航天、鐵路交通、汽車、機械等領域。
相關國家標準和行業(yè)標準：
本儀器涉及到的超聲波探傷國家標準和行業(yè)標準有：
-GB/T 12604.1-2005 無損檢測 術語 超聲檢測
-JB/T 10061-1999 A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術條件
-JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規(guī)程
-GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級
-JB/T 4730.3-2005 承壓設備無損檢測 第3部分：超聲檢測
-JG/T 203-2007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級法，代替JG/T 3034-1996
-SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼制管道無損檢測，代替SY/T 0443-1998，SY/T 0444-1998，SY/T 4056-1993，SY/T 4065-1993
功能特點:
- 最新開發(fā)的、采用國內(nèi)業(yè)界領先的可調(diào)方波激勵技術，內(nèi)置帶有可調(diào)節(jié)選項的高性能“方波脈沖發(fā)生器”，實現(xiàn)與探頭的最佳匹配，對檢測高衰減材料或厚工件具有極佳的穿透力和信噪比；而對檢測薄工件和復合材料又有高的分辨率。
- 先進的電路設計，采用12bits 80MHz采樣片，配合5.7"TFT （640x480）高分辨率彩色液晶顯示屏，確保能快速、準確地對缺陷的回波信號進行顯示和分析，對各種弱小信號的變化和細節(jié)都能及時響應，回波信號的實時性和真實性得到有效的保證，對缺陷性質(zhì)的分析和判斷極為有利。（下圖為全波顯示和射頻顯示）
- 支持動態(tài)錄像功能，可記錄4個動態(tài)記錄文件，每個文件可以以16幀/秒的速度記錄2分鐘實時波形。可外接U盤存貯到4個文件，每個文件半個小時，通道保存、通道存儲菜單化操作，大大方便數(shù)據(jù)的分析存儲（見下圖）。
- 支持灰度B掃功能，可顯示截面灰度B掃描，一個屏幕顯示豐富信息量，可用于簡單TOFD應用。（下圖為灰度B掃功能顯示圖）
- 豐富的波形凍結(jié)功能，波形凍結(jié)功能包括峰值顯示、波形比較、波形包絡等功能，還具有定時釋放能力，大大方便用戶操作。
- 機器嚴格符合歐標En12668-1的標準要求。
- 內(nèi)置國內(nèi)主要4個探傷標準，可直接通過選取標準、試塊、探傷等級自動設置DAC曲線的三線偏移量，內(nèi)帶“美國鋼結(jié)構(gòu)焊接規(guī)范焊縫分級AWS D1.1”評定標準，使檢測更加得心應手，方便現(xiàn)場使用。（下圖為DAC曲線圖）
探傷功能
波峰記憶：實時檢索缺陷最高波，標定缺陷最大值
實用AVG：實用AVG曲線、自動換算缺陷φ值(X>3N，N為近場距離)
動態(tài)記錄：檢測實時動態(tài)記錄波形，存儲、回放
缺陷定位：實顯水平值P、深度值D、聲程值S
缺陷定量：實顯SL定量值（DAC曲線實時定量）
缺陷定性：通過包絡波形，人工經(jīng)驗判斷
曲面修正：曲面工件探傷，修正曲率換算
灰度B掃描：實時掃查，描述缺陷橫切面
技術參數(shù)：
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基本 |
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測量單位 |
mm、inch、ms |
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掃描范圍（mm） |
零界面入射～10000 |
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聲速調(diào)節(jié)（m/s） |
600～16000 |
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探頭延遲（μs） |
-1.000～750.000 |
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顯示延遲（μs） |
-20～+3400 |
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工作方式 |
單探頭、雙探頭、透射 |
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波形顯示方式 |
A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時顯示 |
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脈沖發(fā)生器 |
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脈沖形式 |
模擬方波 |
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發(fā)射電源（V） |
100～400，10V步距可調(diào) |
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發(fā)射脈寬（ns） |
75、100～500，50ns步距可調(diào) |
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探頭阻尼(Ω) |
50、100、200、500 |
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發(fā)射重復頻率(Hz) |
10～1000 |
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接收器 |
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增益（dB） |
0～110 分0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調(diào) |
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總帶寬（MHz） |
0.5～20 |
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檢波方式 |
正半波、負半波、全波、射頻 |
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垂直線性誤差 |
±2% |
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放大器精度（dB） |
±1 |
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抑制（%） |
屏高的0～80 |
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采樣速率（MHz） |
單片80 12bits |
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發(fā)射串擾抑制（dB） |
≥80 |
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動態(tài)范圍（dB） |
≥40 |
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瞬時分辨力（dB） |
≥32 |
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水平線性誤差 |
≤0.1% |
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靈敏度余量 |
≥62dB |
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測量 |
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測量閘門 |
2個獨立測量閘門 |
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檢測方式 |
邊沿、峰值 |
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閘門測量 |
回波的幅值、聲程、深度、投影等 |
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凍結(jié) |
凍結(jié)方式有：全凍結(jié)、峰值、比較、包絡等方式 |
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AVG當量計算 |
根據(jù)缺陷回波和AVG曲線自動計算缺陷當量評估 |
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DAC缺陷定量 |
根據(jù)缺陷回波和DAC 曲線對缺陷進行評估 |
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閘門邏輯 |
關、測量、進波報警、失波報警 |
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閘門報警 |
關、即時、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持2s、鎖存 |
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報警蜂鳴 |
關、開 |
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數(shù)據(jù)管理，通信及打印 |
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數(shù)據(jù)存儲 |
50個探傷參數(shù)通道記錄 |
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1000幅波形圖 |
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（包括980幅A掃描波形和20幅B掃描波形） |
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4x2000幀的動態(tài)波形 |
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數(shù)據(jù)管理 |
實現(xiàn)對通道、波形、動態(tài)記錄的存儲、查看、回放操作 |
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上述均可存儲到本地或U盤 |
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通信 |
通過USB接口與PC機通信 |
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輸出接口 |
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USB OTG接口 |
USB2.0 Device 與PC機通訊接口 |
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USB2.0 Host 接U盤 |
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其它 |
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產(chǎn)品重量（kg） |
約1.6 |
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產(chǎn)品外型尺寸（mm） |
300×180×58（不帶遮光罩） |
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工作溫度（℃） |
-10～+50 |
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存儲溫度（℃） |
-20～+60 |
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語言 |
英語、中文 |
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探頭連接 |
LEMO 或BNC |
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電池容量（mAh） |
聚合物電池2×3.7V 5000mAh |
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電池工作時間（h） |
不低于8 |
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充電時間（h） |
不超過8 |
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電源適配器 |
輸入100-240～50/60Hz |
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輸出9V DC/3 A～4A |
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以上參數(shù)僅供參考，實際以出廠說明書為準！
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